磁共振性能測(cè)試模體訂做
磁共振性能測(cè)試模體訂做
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:一、核心功能與測(cè)試項(xiàng)目
空間分辨率與幾何線性測(cè)試
通過高分辨率測(cè)試卡(1-11線對(duì)/厘米)和幾何畸變檢測(cè)模塊,評(píng)估設(shè)備成像清晰度與幾何失真程度。
支持多層間距、連續(xù)性及掃描層厚精度驗(yàn)證,確保成像一致性。
密度分辨率與低對(duì)比度測(cè)試
內(nèi)置低對(duì)比度靈敏度測(cè)試塊,包含不同深度(0.5-2m
01
更新日期
2025-03-2802
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家03
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